EMI測試是EMC測試的重要環(huán)節(jié)，也是任何電子產(chǎn)品上市之前所必要的步驟，其設(shè)計貫穿整個產(chǎn)品的設(shè)計流程，要求在設(shè)計之初便需要對其進(jìn)行考慮。但是傳統(tǒng)的EMI測試往往需要專業(yè)的頻譜儀或者信號分析儀，并且受制與分析帶寬，往往不能很快速的捕獲異常頻段。泰克MSO4-5-6基于數(shù)字下變頻技術(shù)的頻譜視圖，使其擁有超高的捕獲帶寬，以及超快的解析速率，能夠使得工程師能夠更快速的定位問題所在，加速測試流程。

客戶需要測以太網(wǎng)模塊的插入損耗，反射損耗，通道間干擾，推薦了配網(wǎng)絡(luò)分析儀還需向客戶配置什么樣的夾具來形成完整的解決方案呢?

N6705B直流電源分析儀 快速測試手機(jī)三件套(包含N6705B、N678XA、14585A)十萬出頭的解決方案，能夠充分解決便攜設(shè)備、芯片等能耗測量問題，更能夠?qū)﹄姵氐娜萘考皟?nèi)阻進(jìn)行分析，充分提高便攜設(shè)備的待機(jī)時間等性能。蘋果等便攜設(shè)備、騰訊等軟件提供商均有應(yīng)用。

垂直腔面發(fā)射激光器(VCSEL)是成像、傳感技術(shù)和數(shù)據(jù)通信的關(guān)鍵部件。VCSEL的優(yōu)勢之一是能夠在制造過程的早期階段進(jìn)行晶片級別的測試，相比之下，對其他邊緣發(fā)射半導(dǎo)體激光器的測試通常在制造周期結(jié)束時進(jìn)行，此時產(chǎn)品已達(dá)到生產(chǎn)的最后階段。這種測試方法允許及早檢測組件故障，通過在封裝之前識別有缺陷的設(shè)備，大大節(jié)省了時間和成本。