日置(HIOKI)創(chuàng)立于1935年，現(xiàn)已確立了在先進(jìn)的測試測量工藝技術(shù)研發(fā)及制造領(lǐng)域的國際性重要地位，并開發(fā)了光、通信、環(huán)境測量等新領(lǐng)域

元器件參數(shù)測試: 全部示波器示波器探頭數(shù)字萬用表信號(hào)發(fā)生器電源電子負(fù)載紅外測溫數(shù)據(jù)采集功率分析頻率計(jì)數(shù)器安規(guī)測試元器件參數(shù)測試微小信號(hào)測量電池測試專用分析儀射頻測試半導(dǎo)體測試其他測試設(shè)備

全部: 全部數(shù)字示波器手持示波器電流探頭電壓探頭函數(shù)/任意波形發(fā)生器音頻掃頻信號(hào)發(fā)生器直流電源交流電源雙極性電源電源模塊直流電子負(fù)載交流電子負(fù)載臺(tái)式萬用表手持式萬用表鉗形表綜合安規(guī)測試儀絕緣耐壓測試儀接地電阻測試儀泄漏電流測試儀鋰電池安規(guī)測試儀介電測試矩陣式掃描儀安規(guī)校驗(yàn)裝置數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)高速數(shù)據(jù)記錄儀溫度測試儀半導(dǎo)體參數(shù)分析儀紅外測溫儀紅外熱像儀功率計(jì)功率分析儀頻率響應(yīng)分析儀直流電源分析儀CAN總線分析儀電能質(zhì)量分析儀光譜分析儀繞線元件測試電流分流器網(wǎng)絡(luò)分析儀頻譜分析儀射頻信號(hào)源射頻LCR表噪聲源LCR測試儀高阻表阻抗分析儀毫歐表/微歐計(jì)電容測試儀射頻/通用計(jì)數(shù)器源/測量單元鎖相放大器皮安表納伏表靜電計(jì)電池測試儀電池模擬器

日置(HIOKI): 全部是德(Keysight)泰克(Tektronix)吉時(shí)利(Keithley)固瑋(GWINSTEK)福祿克(Fluke)艾德克斯(ITECH)艾諾(Ainuo)知用(CYBERTEK)品致(PINTECH)普源精電(RIGOL)優(yōu)利德(UNI-T)鼎陽(SIGLENT)華儀(eec)同惠(Tonghui)菊水(KIKUSUI)安柏(anbai)日置(HIOKI)橫河(YOKOGAWA)美爾諾(Maynuo)嘉拓(Jartul)比克(pico)致遠(yuǎn)電子(ZLG)遠(yuǎn)方(EVERFINE)致茂(Chroma)Venable臺(tái)灣益和(Microtest)中策儀器(ZCTEK)菲力爾(FLIR)圖技(GRAPHTEC)國儀量子(CIQTEK)德力光電(DEVISER)大華(DAHUA)

日置(HIOKI)-

相關(guān)搜索結(jié)果 2 個(gè)