MICROTEST 7750系列 線圈匝間短路測試儀

全新一代彩色顯示屏幕速度更快的MICROTEST 7750線圈層間短路測試儀,提供1200V/5200V/10000V脈沖電壓輸出,200MHz/9bits高速取樣技術提供多種比對模式,包含總面積比對、面積差比對、電暈數(shù)比對、顫抖數(shù)比對、二階微分比對與波形比對模式,測試速度高達10次/秒,上自動線是最佳的選擇。針對小感量可選型7750-1層間短路測試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測試治具,支援電壓補償功能,避免配線引起的等效電感引起測試電壓誤差過大,為小電感產(chǎn)品把關質(zhì)量。
快速選型
型號 |
7750-1S |
7750-1F |
7750-5E |
7750-5H |
7750-5S |
7759 |
7750-10S |
通道數(shù) |
1 |
9 |
1 |
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脈沖電壓 |
10V-1200V |
100V-5200V |
200V-10000V |
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波形采樣率 |
200MHz/9 bit |
200MHz/9 bit |
50MHz/9 bit |
100MHz/9bit |
200MHz/9 bit |
200MHz/9 bit |
200MHz/9 bit |
量測最小電感量 |
≥ 0.1μH |
≥ 0.1μH |
≥ 16μH |
≥ 4μH |
≥ 1μH |
≥ 1μH |
≥ 20μH |
量測時間 |
10次/秒 |
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崩潰電壓-BDV |
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支持LAN界面 |
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波形分析 |
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總面積比對 |
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面積差比對 |
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二階微分比對 |
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電暈數(shù)比對 |
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顫抖數(shù)比對 |
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波形比對 |
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產(chǎn)品特點
- 最小電感值≥0.1μH
- 電壓補償功能
- 高速脈沖取樣率200MHz/9bits
- 崩潰電壓測試
- 穩(wěn)定極速測試:10次/秒
- 可程序非破壞性脈沖電壓測試
- 儀器內(nèi)建可儲存128組測試波形
- USB Host快速存取測試畫面
- 五種波形比對,檢測繞線元件層間短路不良