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日置RM3545 電阻計(jì)
品牌:日置(HIOKI)
描述:RM3545可用于線圈或線路電阻、高電阻測(cè)量,測(cè)量源最大DC 1A,最快測(cè)量速度為2.2ms,最高精度為0.01 μΩ,支持20處多點(diǎn)測(cè)量。(最新升級(jí)款機(jī)型為RM3545A)
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MICROTEST 7750系列 線圈匝間短路測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:全新一代彩色顯示屏幕速度更快的MICROTEST 7750線圈層間短路測(cè)試儀,提供1200V/5200V/10000V脈沖電壓輸出,200MHz/9bits高速取樣技術(shù)提供多種比對(duì)模式,包含總面積比對(duì)、面積差比對(duì)、電暈數(shù)比對(duì)、顫抖數(shù)比對(duì)、二階微分比對(duì)與波形比對(duì)模式,測(cè)試速度高達(dá)10次/秒,上自動(dòng)線是最佳的選擇。針對(duì)小感量可選型7750-1層間短路測(cè)試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測(cè)試治具,支援電壓補(bǔ)償功能,避免配線引起的等效電感引起測(cè)試電壓誤差過大,為小電感產(chǎn)品把關(guān)質(zhì)量。
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MICROTEST 7700系列 線圈匝間短路測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:MICROTEST 7700線圈層間短路測(cè)試儀提供200V-5000V脈沖電壓輸出,藉由L/C共振產(chǎn)出的阻尼衰減波形分析磁性元件線圈與線圈之間或漆包線層與層之間有缺陷造成短路的不良品。比對(duì)模式包含總面積比對(duì)、面積差比對(duì)、電暈數(shù)比對(duì)、顫抖數(shù)比對(duì)與與波形比對(duì)。
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MICROTEST 5260系列 變壓器測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:MICROTEST 變壓器測(cè)試儀集多功能于一體,可測(cè)量變壓器產(chǎn)品的重要參數(shù),包括電感值、漏感值、直流電阻、交流電阻、品質(zhì)因數(shù)、電容值、匝數(shù)比以及檢測(cè)引腳短路等項(xiàng)目。測(cè)試頻率可達(dá)200kHz/500kHz/1MHz,內(nèi)置支持LCR電表測(cè)量模式,配備F5620氣動(dòng)測(cè)試治具,提供20組測(cè)試通道,可進(jìn)行100mA直流偏置測(cè)試。我們可根據(jù)客戶需求提供定制化測(cè)試治具服務(wù)。
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MICROTEST 7630 耐壓測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:MICROTEST 7630耐壓測(cè)試儀是一款三合一設(shè)備,支持交流耐壓、直流耐壓和絕緣電阻測(cè)試功能。交流耐壓最高可達(dá)5000V/漏電流30mA,直流耐壓6000V/漏電流10mA,絕緣電阻最大12000MΩ。該設(shè)備支持通過PC連接軟件進(jìn)行遠(yuǎn)程編程和存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù),并可連接條碼機(jī)進(jìn)行條形碼掃描,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)履歷追溯管理。
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MICROTEST 7631 耐壓測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:MICROTEST 7631耐壓測(cè)試儀是一款三合一設(shè)備,支持交流耐壓、直流耐壓和絕緣電阻測(cè)試功能。交流耐壓最高可達(dá)5000V/漏電流30mA,直流耐壓6000V/漏電流10mA,絕緣電阻最大12000MΩ。該儀器提供8組測(cè)試通道,可選購(gòu)7508/7516多通道掃描盒,最多可擴(kuò)展至72組測(cè)試通道。支持PC連接軟件進(jìn)行遠(yuǎn)程編程和存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù),并可連接條碼機(jī)進(jìn)行條碼掃描,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)履歷追溯管理。
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MICROTEST 6365A/6367A LCR測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:MICROTEST 6365A/6367A LCR測(cè)試儀提供0.1Hz-200k/1MHz頻率范圍,可用于電化學(xué)阻抗或電池材料測(cè)試。其極低起始頻率從0.1Hz開始,測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)。支持RS-232、Handler、LAN、USB Host、Handler、GPIB通訊接口,可通過USB存儲(chǔ)測(cè)試畫面與數(shù)據(jù),選購(gòu)PC連接軟件可支持掃描分析功能。
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MICROTEST 6360系列 LCR測(cè)試儀
品牌:臺(tái)灣益和(Microtest)
描述:MICROTEST 6360系列提供20kHz/100kHz/500kHz/1MHz測(cè)量頻率,測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容),支持RS-232、Handler、LAN、USB Host、Handler通訊接口,可通過USB存儲(chǔ)測(cè)試畫面與數(shù)據(jù),選購(gòu)PC連接軟件可支持掃描分析功能,是一款元件阻抗基礎(chǔ)測(cè)量的最佳選擇。